日立台式XRF镀层测厚仪

日立台式XRF镀层测厚仪FT110A-测量极小目标

日立台式XRF镀层测厚仪FT110A帮助诸多的行业确保符合电镀规范，以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。此外，该仪器可减少一系列测量所需的时间，从而帮助提高生产力。

        在任何质量保证或质量控制系统中，准确性和可靠性均至关重要，拥有改良的X射线荧光技术的FT110A将使您的产品满足最高标准的行业规范要求。

        借助更新的成像系统、全新的自动测量定位功能和大型样品台，确保这台镀层分析仪易于使用并提高分析效率。

         基于 Windows 系统的X-ray Station软件提供直观的用户界面，用户可对该仪器进行全面控制。

        通过将数据直接整合到MicrosoftTM Word和Excel中来简化您的质量保证/质量控制流程。

为何如此多的实验室改为使用FT110A?

1.快速分析

         高灵敏度分析组件可以在数秒内测量镀层厚度和成分。

2.无损

         X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹。即使是对敏感性材料，其测量也是安全的;同时无需丢弃被测量过的样品。

3.提高生产力

        FT110A的自动化功能意味着您可以更快地准备和测量样品，从而提高您的分析量。

4.多功能性

         FT110A可以分析多达四层镀层和基材。可以使用基本参数(FP)或经验校准来测量镀层和材料成分(如金属合金或电镀液)。

5.易于使用

        培训可轻松完成，因此任何人都可以操作FT110A。只需在工作台上设置样品，借助友好的界面指定测量区域，然后开始记录读数。用户界面可配置为仅显示日常操作所需的功能。

6.兼容性

        测量方法符合标准ISO3497、日立高新技术ASTMB568和DIN50987。

精确性和灵活性

FT110A拥有一系列标准功能，能够以快速性和简便性测量镀层厚度，其配置满足高要求的应用。

特点

多准直器组件-0.1和0.2毫米双准直器是标准配置，可灵活处理不同尺寸的零件。

广泛的分析范围-可确定从钛(22)到铀(92)等元素的镀层厚度。

校准和FP方法-使用经验和基本参数方法来确定薄膜厚度和成分。

大型测量室尺寸-FT110A可容纳尺寸高达500x400x150毫米且重量达到10kg的样品。

一键式测量-使用中心搜索功能进行简化的自动测量意味着几乎任何人都可以测试样品。

可选件

四准直器组件-通过加入0.05毫米和0.025x0.4毫米准直器，FT110A的多功能性得以显著提升。

广视角相机-获取样品的鸟瞰图，然后快速放大您选择的测试区域。

自动对焦功能-无论样品厚薄或大小如何，FT110A都可在几秒钟内自动对样品进行对焦。可从远至80毫米3.1英寸)的距离测量样品，非常适合测量具有凹陷区域的零件，或者适用于测量不同高度的多个样品。

图像处理软件-使用图案识别软件快速的对复杂样品进行分析。操作员只需将测量区域放入视域，软件就会自动进行位置微调。