质量控制与生产同步
XRF分析的速度向来很快。但是,经常在生产环境中进行XRF测量的用户都知道,使用XRF设备的大部分时间都消耗在条件准备和仪器设置上,而不是在样品实际分析中。随着测试样品的尺寸越来越小而复杂性增大,以及对规格要求越来越严格,且需要进行100%全检测,此时每一秒时间的节省都很重要。
日立台式XRF镀层测厚仪FT230直指此问题的核心。FT230的每个设计元素均旨在减少完成XRF测量所需的时间,有助于更快地根据测试结果采取行动,减少浪费并提高工作效率。从根本上说,我们让操作人员与仪器的交互变得越来越简单。
只需加载零部件并运行Find My PartTM(查找我的样品)程序,FT230即可找到需要测量的零部件和测试点,选择正确的分析程序并将测试结果发送至所需之处。操作人员很少需要介入,因此可以将更多的时间用于执行其他任务。
XRF测厚环节不应成为生产过程的瓶颈。从微小的电子元件到大型镀件,FT230均可帮助您在更短的时间内完成更多工作,更方便的实现100%全检验。
使用日立台式XRF镀层测厚仪FT230实现无间断生产
1.快速分析
自动聚焦加快样品装载速度,即使在不同形状和尺寸的组件之间切换时依然如此。
2.快速设置
智能识别功能 Find My PartTM(查找我的样品)会自动选择正确的分析程序,并找到正确的分析点。
3.出色的可视性
仪器可选配广角相机,在更大面积上显示样品视图。这一功能加上可调节的发光二极管照明装置,使得精确定位目标区域变得容易。
4.最大正常运行时间
自检诊断可确认仪器的稳定性和健康状况。并可将数据共享至安全的日立ExTOPE Connect云数据服务,以便后台仪器支持专家给予技术支持。5.无缝集成
与其他软件系统(如QMS、SCADA、MES和ERP)无缝集成,为内部用户和外部客户提供简单、可定制的数据导出和报告创建途径。
6.易于使用
新型用户界面专为非XRF专家用户设计。直观而整洁,只需点击鼠标即可进行正确的分析。
7.功能先进且用途广泛
FT230简化了测试程序,能分析基材上多达四层镀层,也可分析金属合金和镀液成分。
智能识别
FT230配置新开发的智能零部件识别系统,可实现快速、简单的分析设置。这个功能将分析设置中最困难且容易出错的部分予以自动化--自动为每个分析位置选择正确的分析程序。
Find My PartTM(查找我的样品)为测量零部件选择正确的分析程序。让XRF自动选择测量位置和方法,并将结果和报告发送至所需之处。这比手动过程更快,能减少用户出错的几率,并使操作人员有时间执行其他任务。
当你需要测量新的零部件时,可以很容易的将它们添加至仪器识别库中。
自动聚焦
为了最大限度地提高XRF分析的准确度和精确度,必须在X射线管、被测零部件和检测器之间保持固定的距离。焦距的微小变化也会对结果的可靠性产生影响,X射线管距离样品太近或是太远会使得样品测量的厚度结果过大或过小。
我们已整备仪器配置,为用户提供两种自动聚焦选项:自动接近和自动对焦。
当固定工作距离时,使用自动接近功能。只需轻轻一点,仪器便会自动将分析头移动至准确距离。自动对焦,有时称为“自由距离测量",选择这种对焦方式后,即使测量距离发生变化,仪器也能获得准确的结果。
这一功能可以在一天的分析过程中节省大量时间,尤其是在测量具有复杂几何形状的组件或高度不同的多个样品时更能节省时间。

智能简短的界面
FT230是第一款运行日立新FT Connect软件的产品,基于40多年的经验和用户对SmartLink和X-ray Station在内的成熟软件的反馈。
FTConnect能助力用户更快获得测试结果。显著的区别是界面。FT Connect屏幕并不充满用户操作所需的控件和选项,而是优先显示样品视图和清晰显示分析结果,由此能使用户更容易正确定位零部件和根据结果迅速采取行动。
常规测量屏幕--用户最常使用的界面--仅显示设置和开始测量以及评估结果所需的控件。用户只需点击几下鼠标,即可轻松创建校准、设置报告模板和数据处理规则,以及使用引导式选择工具开发更复杂的分析程序、模式和零部件。FTConnect不仅使运行常规分析和快速解读结果变得简单,同时还结合先进的分析选项,可进行更高级的分析(包括根本原因分析)。
广域视图
设置样品进行分析最困难的一个方面是在印刷电路板或金属部件上找到正确的测量点。除了智能识别功能,FT230还提供业内最大的样品视图软件。屏幕的大部分区域用来显示零部件,操作人员可以更容易地查看零部件表面上的特征,帮助他们找到正确的区域进行分析,并更容易在零部件表面查找。
此外,FT230还选配另一台广角相机,可以更容易、更快速找到大型电路板或金属镀件上的测量位置。当两台相机一并使用时,用户可以在单个样品的不同测量位置之间或样品室内多个零部件之间快速切换,而不会“迷失"在眼花缭乱中。

